陶瓷片介电常数介质损耗测试仪固体：材料测量直径Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可选；厚度可调≥ 15mm （二选一） 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）

高频、工频介电常数测试仪基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有*人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz

薄膜介电常数仪介质损耗测试仪因数（Q)的电感器是测量系统的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。

高频Q表 介电常数测试仪GDAT高频Q表 平板电容极片 Φ50mm 可选频率范围20KHz-60MHz 、 频率指示误差3×10-5±1个字

1Mhz介电常数/介质损耗测定仪主要测试材料:绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等