四探针半导体电阻率测量仪参照标准： 1.硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）. 2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》. 3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》. 4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

双电四探针电阻测试仪符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

绝缘涂层表面体积电阻率测试仪显示迅速、稳定性好、读数方便, 适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外，还能直接测量电流如电子器件暗电流等。

绝缘漆膜表面电阻率测试仪测量新鞋的电阻值时，应将硫化后有新鞋放置24小时以上，然后在测量所要求的温度、湿度环境中放置2小时以后才能进行测量。使用单位在定期检测时应将鞋洗干净，其温湿度的要求及放置时间同上。测量环境要求为：温度：10℃ ～ 40℃相对湿度为40% ～ 70%。

塑料片表面体积电阻测试仪电阻测量范围高达0—2×1019Ω直接测量，如采用电压-电流法推算，则可测量超过1018Ω电阻，是目前超高阻测量能力较强的数字式仪表，进行绝缘材料体积电阻率与表面电阻率测量的*佳仪表。高分辨力为100Ω。